SEM/EDX Analysis Other Products

OM images of the cross-sectional solder part at X54 magnification

SEM Measurement of Sample (Area 1A) at X25,000 magnification

SEM Measurement of Sample (Area 1B) at X25,000 magnification

PRODUCT DETAIL

TREND can assist our customers to do SEM/EDX analysis
for intermetallic compound (IMCs) at the solder joint Interface of their sample.

หากต้องการสอบถามข้อมูลเพิ่มเติม
กรุณาติดต่อ

บริษัท เทรนด์ อิเลคทรอนิคส์ (ไทยแลนด์) จํากัด

78 หมู่ 11 ถ. พหลโยธิน ต.คลองหนึ่ง
อ.คลองหลวง จ.ปทุมธานี 12120

โทร :

02-821-5049, 081-813-8696
083-988-8754, 081-899-7125

อีเมล : info@trend.co.th

Line ID : @trend1998

ผลิตภัณฑ์